标准更新 | AEC-Q104标准更新解读：车规多芯片模块可靠性验证新要求

AEC-Q104是汽车电子协会针对 “多芯片模块（MCM）”制定的车规级可靠性验证规范，是车载高密度集成器件进入供应链的重要准入依据。该文档包含一套基于失效机理的应力测试，并规定了多芯片模块（MCM）验证所需的、由应力测试驱动的最低验证要求，同时引用了相关验证测试条件。随着标准版本更新，其适用范围、测试项目、判定准则与验证逻辑均发生关键变化。本文基于标准原文，对本次修订要点、技术影响及工程实施进行系统性解读，为器件设计、验证工作提供权威参考。

旧版本：AEC-Q104-REV-September 14, 2017 → 新版本：AEC-Q104-REV-November 28, 2025
版本A（2025.11.28）更新内容概要

• 适用范围中新增AEC-Q102的相关内容、交叉引用及适用性说明；新增AEC-Q102、AEC-Q103-002及AEC-Q103-003的引用文件。

• 更新AEC-Q104的适用性说明及标准中图2内容。

• 修订通用数据的定义，纳入AEC-Q102与AEC-Q103X的要求。

• 修订标准中图4测试流程，使其与标准中表1《测试方法》保持一致。

• 修订标准中表1《测试方法》，具体介绍见下文。

• 修订标准中表2《工艺变更认证测试选择指南》。

本次AEC-Q104标准核心变更要点

■ AEC-Q104适用性更新

• 完全由AEC-Q102《发光二极管（LED）、分立光电器件验证规范》覆盖的发光二极管（LED），不属于本文件范围。但同时属于多芯片模块的分立光电器件，纳入本文件范围（有关何种情况需执行MCM验证测试方案，详见 AEC-Q102-003）。此外，作为大型 MCM 组成部分的光电器件，亦纳入本文件范围。

• 完全由AEC-Q103-00X系列验证规范覆盖的微机电系统（MEMS），不属于本文件范围。但同时属于多芯片模块的MEMS器件，纳入本文件范围。此外，作为大型MCM组成部分的MEMS器件，亦纳入本文件范围。
  

■ 测试流程更新：